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影響渦流涂層測厚儀測量精度的因素

在國家標準GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法》(等效采用國際標準ISO 2360-1982)中,對渦流測厚儀的標準、操作程序和影響測量精度的因素及其注意事項作了詳細地闡 述。其中有關影響測量精度因素的條款,應視作渦流涂鍍層測厚儀開發應用必須遵循的指導性文件,這些影響測量精度的主要因素包括:
1、覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
2、基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關。
3、任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響。
4、渦流測厚儀對試樣測定存在邊緣效應,即對靠近試樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的。
5、試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精 度,粗糙程度增加,影響增大。
7、渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物,測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。

影響渦流涂層測厚儀測量精度的因素


在國家標準GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法》(等效采用國際標準ISO 2360-1982)中,對渦流測厚儀的標準、操作程序和影響測量精度的因素及其注意事項作了詳細地闡 述。其中有關影響測量精度因素的條款,應視作渦流涂鍍層測厚儀開發應用必須遵循的指導性文件,這些影響測量精度的主要因素包括:
1、覆蓋層厚度大于25μm時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
2、基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關。
3、任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響。
4、渦流測厚儀對試樣測定存在邊緣效應,即對靠近試樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的。
5、試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量精 度,粗糙程度增加,影響增大。
7、渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感,因此測量前應清除測頭和覆蓋層表面的污物,測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。


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